1. 加熱系統(tǒng)：

設(shè)備內(nèi)置高溫電爐，采用高精度溫控系統(tǒng)，按照預(yù)設(shè)升溫曲線勻速升溫。爐內(nèi)形成均勻溫場(chǎng)，將被測(cè)試樣整體加熱至目標(biāo)溫度（可覆蓋室溫至 1600℃/1800℃區(qū)間），使試樣隨溫度升高產(chǎn)生熱脹冷縮物理形變。

2. 機(jī)械頂桿傳導(dǎo)：

爐內(nèi)設(shè)置耐高溫測(cè)桿（頂桿），一端緊貼試樣端面，另一端延伸至爐體外部。 試樣受熱發(fā)生長(zhǎng)度變化時(shí)，微小的膨脹 / 收縮位移會(huì)通過(guò)硬質(zhì)、低膨脹系數(shù)的測(cè)桿無(wú)損耗傳導(dǎo)至外部檢測(cè)機(jī)構(gòu)，避免高溫環(huán)境干擾形變數(shù)據(jù)。

3. 位移檢測(cè)：

外部搭配高精度位移傳感器（千分表 / 光柵位移計(jì) / 電感測(cè)微儀），實(shí)時(shí)采集測(cè)桿傳遞的位移數(shù)值。 傳感器將機(jī)械位移轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，全程連續(xù)記錄試樣在不同溫度點(diǎn)的長(zhǎng)度變化量。

4. 數(shù)據(jù)運(yùn)算與輸出

控制系統(tǒng)同步采集實(shí)時(shí)溫度與對(duì)應(yīng)形變量，根據(jù)公式自動(dòng)計(jì)算： 平均線膨脹系數(shù) = 總膨脹量 ÷ (試樣原長(zhǎng) × 溫度變化值) 最終生成溫度 — 膨脹量、溫度 — 膨脹系數(shù)曲線及檢測(cè)報(bào)告。